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天瑞Thick 600 X荧光镀层测厚仪
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天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪
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Thick 800A镀层测厚仪
仪器介绍 Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其
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Thick 8000镀层测厚仪
! Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型高端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。 性能优势
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镀层测厚仪Thick880
% ~ 70% 电源要求 AC 220V±5V, 50/60HZ 超高分辨率、超清摄像头、超便捷操作、超快检测速度、超人性化界面 产品简介: X射线镀层测厚仪
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精谱 THICK900 系列镀层测厚仪
THICK900系列X荧光分析仪专为在极微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束,短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了镀层分析,还可以加装全元素
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MAXXI 6 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
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THICK680测厚仪(X荧光光谱仪)
观察:CCD摄像头测定软件:薄膜FP法、检量线法Z轴程控移动高度:20mm 标准配置X射线管,正比记数盒,高清摄像头,高度激光,信号检测电子电路。 适用于线路板/板材/镀层测厚,高灵敏度
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禾苗镀层测厚仪器
电源:AC220V/ 50Hz● zei大功率:330W● 工作温度:15-30℃● 相对湿度:≤85%,不结露 E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其
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X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。微束
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